激光膜層損傷閾值測(cè)試系統(tǒng)

激光膜層損傷閾值測(cè)試系統(tǒng)用于測(cè)試由于激光輻射所引起的能夠探測(cè)（或觀察）到的致使光學(xué)表面（或膜系）特征的不可逆性變化的幾率為0的大激光輻射能量密度。

產(chǎn)品時(shí)間：2020-04-24

訪問(wèn)量：2400

產(chǎn)品介紹

激光膜層損傷閾值測(cè)試系統(tǒng)

西安立鼎光電科技有限公司是一家專業(yè)從事紅外、激光類光電系統(tǒng)產(chǎn)品的研發(fā)生產(chǎn)、系統(tǒng)集成及專業(yè)代理銷售為一體的新興技術(shù)企業(yè)。公司專注于為客戶提供從元件、組件、部件到全套光電系統(tǒng)產(chǎn)品的完整解決方案。

產(chǎn)品參數(shù)

測(cè)量范圍	1J/cm2~30J/cm2（脈沖寬度為15ns±5ns）
測(cè)試方式	1對(duì)1，S對(duì)1
測(cè)試樣品	平面試樣片、球面鏡
光斑照射面積	0.5mm2±0.03mm2
激光輻射波長(zhǎng)	1064nm±5nm
衰減方式	光學(xué)吸收型
衰減量	0~90%
被測(cè)工件直徑范圍	Φ10mm~Φ100mm

留言框

產(chǎn)品：
您的單位：
您的姓名：
聯(lián)系電話：
常用郵箱：
省份：
詳細(xì)地址：
補(bǔ)充說(shuō)明：
驗(yàn)證碼：

請(qǐng)輸入計(jì)算結(jié)果（填寫阿拉伯?dāng)?shù)字），如：三加四=7

上一篇： LD-TS多光譜多光軸測(cè)試系統(tǒng)

下一篇：Hawk 252英國(guó)Raptor高分辨率EMCCD相機(jī)

產(chǎn)品中心 Products

激光膜層損傷閾值測(cè)試系統(tǒng)

留言框

產(chǎn)品：

您的單位：

您的姓名：

聯(lián)系電話：

常用郵箱：

省份：

詳細(xì)地址：

補(bǔ)充說(shuō)明：

驗(yàn)證碼：